金属构件无损残余应力测量
测量方法:cosα法 X射线衍射测量应力
测量设备:μ-X360 便携式X射线残余应力分析仪
技术参数:
(1)X射线管功率45W(30KV,1.5mA);
(2)探测器类型:圆形全二维面探测器(直径:3英寸);
(3)完成残余应力测试需要的X射线入射次数:1次;
(4)单次X射线入射最多可获取衍射峰数量:500个;
(5)无应力铁粉标样残余应力测试典型X射线曝光时间:15秒;
(6)定位方式:内置CCD+激光辅助定位系统。
突出优点:
(1)更快速:二维探测器一次性采集获取完整德拜环,单角度一次入射即可完成残余应力测量;
(2)更精确:X射线单次曝光可获得500个衍射点进行残余应力数据拟合,结果更精确;
(3)更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难;
(4)更方便:无需任何液体冷却装置,支持便携电池供电;
(5)更强大:支持扩展区域应力分布自动测量功能,具备晶粒尺寸均匀性、材料织构、残余奥氏体含量分析等功能。
可检测材料:
钛(Titanium)
铜(Copper)
碳化硅(Sillicon carbide)
碳化钨(Tungsten carbide)
铁素体(Ferrite)
奥氏体(Austenite)
铝(311晶面)Aluminium(311))
铝(222晶面)Aluminium(222)
纯镍Nickel(pure)
镍合金Nickel(alloys)
几何变形及应变测量
技术参数:
(1)兼容DIC-2D测量,2D应变测量精度:10微应变 ,3D应变测量精度:20微应变,应变测量范围:0.005%—2000%,位移测量精度:0.01像素;
(2)相机全幅分辨率2320*1720,全幅帧率500FPS,最高帧率不低于50000fps,曝光时间1us,一体机,像元尺寸7um;
(3)可进行图像处理,包含白平衡、亮度对比度调节、透视、畸变矫正等,支持棋盘格标定和全站仪标定,支持对目标进行跟踪,并对其运动的角度、速度、加速度等运动参数进行分析,支持三维姿态测量:俯仰角、方位角、横滚角等;
(4)具有疲劳采集模块功能,可直接在软件中调用疲劳采集模块;
突出优点:
(1) 非接触式三维形变、位移和应变测量;
(2) 无需现场标定;
(3) 多种测量模式及功能;
(4) 满足多种测量环境;
(5) 用户可编程控制图像采集过程;
(6) PM-TC触发采集器。
应用领域:
材料测试强度评估;
非线性行为检测;
FLC曲线测定;
非线性行为检测;
FE模式验证;
材料特性测试;
蠕变特性和老化过程;
应变计算;
为组件标注尺寸。
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